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為了提昇靜電放電 (Electrostatic
Discharge, ESD) 防護技術暨可靠度 (Reliability)
技術領域的研發能力，台灣靜電放電防護工程學會 (Taiwan ESD Association, T-ESDA) 廣邀各界發表 ESD
和 Reliability 相關技術實例與研究心得，共同探討解決 ESD和 Reliability
問題的對策。每年在研討會上，我們除了可以看到國內各方先進發表相關技術的研究成果，所有與會人士也會在研討會期間進行密集的技術交流或尋得專業問題的解決方法。藉由此活動的舉辦，促進產學研探討解決電子產業所面臨的靜電放電問題及可靠度的問題。
論文截稿日期：2024年8月30日
論文接受通知：2024年9月30日前
廠商展示廣告報名：2024年10月18日前
研討會線上報名：2024年10月27日前
舉辦日期：2024年10月30日~11月1日
舉辦地點：陽明交通大學 新竹光復校區 交映樓1樓國際會議廳
主辦單位：台灣靜電放電防護工程學會
(T-ESDA)
協辦單位：國立陽明交通大學、臺灣可靠度技術發展協會 (TRTA)
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[得獎名單]
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[TESDC-2024] Best Paper ===
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New ESD Design of MV
Gate-Driven NMOS without Extra Mask Cost and Process
Step in 28nm
Embedded High Voltage Process
Yu Hsuan Lin, Hou Jen Chiu, Alice Chao, Howard
Tang, and K C Su
United Microelectronics Corporation
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[TESDC-2024] Best Student Paper ===
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靜電放電事件偵測器之設計與創新應用
賴長均、柯明道
國立陽明交通大學 電子研究所
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Toward Understanding
the Positive Shift of the Third Quadrant Turn-on Voltage
in Planar SiC Power MOSFETs under High Drain Bias Step
Stress
Wei-Cheng Lin, Yu-Sheng Hsiao, Chen Sung, Chu Thị
Bích Ngọc, Rustam Kumar, Pei-Jie Chang, Surya Elangovan,
Chia-Lung Hung, Yi-Kai Hsiao, Hao-Chung Kuo, Chang-Ching
Tu, and Tian-Li Wu
International College of Semiconductor Technology
Institute of Electronics, National Yang Ming Chiao Tung
University, Taiwan; Institute of Pioneer Semiconductor
Innovation, National Yang Ming Chiao Tung University,
Taiwan; Institute of Electronics, National Yang Ming
Chiao Tung University, Taiwan; Semiconductor Research
Center, Hon Hai Research Institute, Taiwan; Department
of Photonics, National Yang Ming Chiao Tung University,
Taiwan; Department of Electrical Engineering, National
Central University, Taiwan
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=== [TESDC-2024] Best
Student Presentation ===
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雙層AlGaN間隔層的p-GaN功率氮化鎵HEMT閘極正向HBM特性分析
黃博彥、王浩然、陳學翰、徐碩鴻、黃敬源
半導體研究學院,清華大學, 新竹, 台灣, R.O.C.; 電子工程研究所,清華大學, 新竹, 台灣,
R.O.C.
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