林群祐老師 Dr. Chun-Yu Lin

徵求研究生/專題生

研究方向說明

在所有積體電路產品中,皆必須於量產時符合可靠度的規範,以提供該積體電路產品足夠的耐用年限。但是隨著積體電路與系統單晶片在各式各樣不同領域的廣泛應用,其可靠度問題也逐漸浮現,包含靜電放電防護問題、電性過壓問題等。尤其是當半導體製程技術進展到奈米尺寸之後,可靠度問題已成為積體電路產品中相當艱鉅的挑戰。本研究群在積體電路可靠度設計領域之技術專長包括有:(1) 電源電路之全晶片靜電放電防護設計、(2) 高速傳輸介面及其靜電放電防護設計、(3) 射頻與毫米波積體電路及其靜電放電防護設計、(4) 前瞻奈米製程與FinFET元件之靜電放電防護設計。詳細的研究成果,請參閱本研究群之著作或專題資訊介紹

給學生的建議

歡迎優秀的同學加入本實驗室,本研究群有校內外多項研究計畫支援。
歡迎新生到實驗室找學長姐了解研究近況,也歡迎同學在甄試報名前和本實驗室接洽,互相認識。
如想加入本實驗室,請將個人成績單與簡歷 (說明個人技能,例如 Hspice、Laker、Virtuoso、ADS) 以 E-mail 寄到信箱 cylin.iee@nycu.edu.tw